大多數人能分清高頻雷達物位計和低頻雷達物位計，但是說到高頻雷達物位計和調頻雷達物(wu)位(wei)計(ji)是(shi)否一樣這(zhe)個問題時，就丈二和(he)尚摸不(bu)到頭腦了，那么今天小編就來(lai)答(da)疑解惑，以我司的26G高頻(pin)雷(lei)達物(wu)位(wei)計(ji)和(he)80G調頻(pin)雷(lei)達物(wu)位(wei)計(ji)為例說明。

一般來說雷達物位計的高頻、低頻、調頻是指雷達物位計的頻率，這里有一個誤區，很多用戶認為雷達物位計的精度是由頻率決定的，其實并不是，它受回波處理算法以及信號發射接收方式影響。以我司26G高頻雷達物位計為例，它的原理是雷達物位天線發射較窄的微波脈沖，經天線向下傳輸。微波接觸到被測介質表面后被反射回來再次被天線系統接收，將信號傳輸給電子線路部分自動轉換成物位信號。它的優點有，采用非接觸雷達，無磨損，無污染;天線尺寸小，便于安裝;波長更短，對在傾斜的固體表面有更好的反射;測量盲區更小，對于小罐測量也會取得良好的效果;幾乎不受腐蝕、輕微泡沫影響(xiang);幾乎不受大氣(qi)中水蒸(zheng)氣(qi)、溫(wen)度和壓力變化影響(xiang);嚴重粉(fen)塵環境不會影響(xiang)電磁波工作，高信噪比，即使在波動的情(qing)況下也(ye)能獲(huo)得更(geng)優的性(xing)能;波速聚集效果極佳，配合多種類(lei)型天線，可(ke)以滿足90%的工況場(chang)合。

而我們的80G調頻雷達物位計的測量原理是，調頻連續波雷達物位計的通用原理為雷達在罐頂發射電磁波，電磁波碰到介質反射后被雷達接收，接收信號與發射信號之間的頻率差δf與介質表面的距離R成一定比例關系：R=C(速度)*δf(頻率差)/2/K(調頻斜率)。因為光速C和調頻斜率K已知，因此估算出頻率差δf，便可得到雷達安裝位置料面的距離R，再通過已知的罐體總高，減去雷達到料面的空間距離(簡稱空高)，得出料位的高度。它的優點是采用毫米波雷達，測量精度最高可達±2mm，測量最小盲區為0.1m;天線尺寸小，滿足了多種工況場合測量;多種透鏡天線，發射角小，能量集中，回波信號強，同等工礦條件下，相比于其他雷達產品可靠性高;擁有更強的穿透性，在有粘附及凝結的情況下也可以正常使用;動態信號范圍更大，對于低介電常數介質的測(ce)(ce)量(liang)更加(jia)穩定;多種(zhong)測(ce)(ce)量(liang)模(mo)式，快(kuai)速測(ce)(ce)量(liang)模(mo)式下(xia)雷(lei)達(da)反應時間小于1S。

通過上述的簡單(dan)介紹，用戶(hu)們(men)肯定發現了80G雷(lei)達(da)物(wu)(wu)位(wei)(wei)計(ji)似乎優勢相比(bi)于26G雷(lei)達(da)物(wu)(wu)位(wei)(wei)計(ji)要大的多，但是其(qi)實在(zai)(zai)實際工況測量中，26G雷(lei)達(da)物(wu)(wu)位(wei)(wei)計(ji)能測的，80G雷(lei)達(da)物(wu)(wu)位(wei)(wei)計(ji)不一(yi)定合適，過去我們(men)也(ye)有相關案例。在(zai)(zai)選(xuan)(xuan)擇時，我們(men)要選(xuan)(xuan)合適自(zi)己的，而不是看哪(na)款產品優點(dian)多，就盲(mang)目(mu)選(xuan)(xuan)擇。