雷達液位計通過電磁波工作，其工作原理是通過向被測目標發射電磁波來測量特定液位，電磁波發射后被介質反射。對于雷達液位計而(er)言，其關(guan)鍵功能是確(que)保其能夠順(shun)利傳輸電磁波信號，在我們的工業(ye)生(sheng)產現場(chang)，經常會發生(sheng)干擾，那么哪些干擾源會影響(xiang)雷(lei)達液(ye)位計(ji)的測量呢(ni)?今(jin)天小編帶大家看看

對于雷達液位計來(lai)說(shuo)，產生干擾的原(yuan)因很(hen)多，干擾源也很(hen)多。我們從內部、外部、交(jiao)流和直流四大方面(mian)分析。

一、外部干擾(rao)

1.天(tian)體和天(tian)電(dian)(dian)干擾(rao)，首先，什么是(shi)(shi)天(tian)體干擾(rao)?天(tian)體是(shi)(shi)指(zhi)太陽或其他恒星(xing)，因此，天(tian)體干擾(rao)是(shi)(shi)指(zhi)它們的(de)電(dian)(dian)磁(ci)波對(dui)雷達(da)液位計(ji)的(de)干擾(rao)。我們對(dui)天(tian)電(dian)(dian)都(dou)感到(dao)很陌生(sheng)，所謂天(tian)電(dian)(dian)通(tong)常(chang)我們會(hui)將其理解為由(you)大氣、雷電(dian)(dian)等電(dian)(dian)離作用，或是(shi)(shi)火山、地(di)震(zhen)等自然(ran)現象產(chan)生(sheng)的(de)電(dian)(dian)磁(ci)波對(dui)雷達(da)液位計(ji)的(de)信號產(chan)生(sheng)的(de)干擾(rao)。

2.機械干擾，所謂機械干擾，是指雷達物位計內(nei)部(bu)的一(yi)些部(bu)件也會因外部(bu)機器的大范圍振動(dong)或沖(chong)擊而振動(dong)，甚至發生位移(yi)和變(bian)形，這也可能導(dao)致(zhi)儀表頭(tou)指針松動(dong)，造成測量誤差。在這種情況下，我們通常使用(yong)隔板、減(jian)震彈簧等來(lai)緩解沖(chong)擊。

3.濕度干擾，當濕度增加時，會導致絕緣子電阻降低，介電常數增(zeng)加，骨(gu)架蓬松，電(dian)(dian)阻增(zeng)大，從而導致泄漏電(dian)(dian)流增(zeng)加，電(dian)(dian)容和電(dian)(dian)感變化。此(ci)外，它會軟化膠(jiao)體，降(jiang)低(di)測(ce)量精度。

4.化學(xue)干擾，化學(xue)干擾通常指一些腐蝕性氣(qi)體，如(ru)酸(suan)和(he)堿。這些氣(qi)體的(de)長(chang)期作(zuo)用不(bu)僅(jin)會損壞儀器和(he)內部元件(jian)，還會與(yu)金屬導電，影(ying)響雷達(da)液位計的(de)正常工作(zuo)。

5.熱(re)干(gan)(gan)擾，火(huo)電廠在運行過程中，其熱(re)力(li)設備會(hui)產生大量(liang)熱(re)量(liang)，引起周圍儀表和環境溫度的(de)變化。這(zhe)就是我(wo)們所說(shuo)的(de)熱(re)干(gan)(gan)擾。這(zhe)些(xie)干(gan)(gan)擾會(hui)影響雷達液位計(ji)的(de)組件，并(bing)進一步產生測量(liang)不準確等問題。

6.光(guang)(guang)干(gan)擾，光(guang)(guang)的(de)(de)干(gan)擾主要(yao)存(cun)在于(yu)半導體(ti)(ti)(ti)元件中。用于(yu)控制(zhi)儀器的(de)(de)許多組件都(dou)是由(you)半導體(ti)(ti)(ti)材料制(zhi)成的(de)(de)，半導體(ti)(ti)(ti)組件的(de)(de)導電(dian)性會在光(guang)(guang)的(de)(de)影響(xiang)下發生變化。這樣(yang)會影響(xiang)雷達液(ye)位計的(de)(de)正常使用。

二、內(nei)部干擾

干(gan)(gan)擾(rao)不僅來(lai)自外部(bu)，也(ye)來(lai)自雷達液(ye)位(wei)計內部(bu)，如電(dian)源變(bian)壓器(qi)和電(dian)子元件之間的(de)導線、電(dian)感和電(dian)容引起(qi)的(de)干(gan)(gan)擾(rao)。此外，內部(bu)組件也(ye)會產生噪聲干(gan)(gan)擾(rao)。如今，大(da)多數雷達液(ye)位(wei)計也(ye)開始進(jin)(jin)行改進(jin)(jin)，采用高頻(pin)微波(bo)技術，大(da)大(da)提高了(le)液(ye)位(wei)計的(de)性能，減少了(le)干(gan)(gan)擾(rao)。

三、直流干擾

在雷達物位計的(de)測量(liang)電(dian)(dian)路(lu)中，當有附加直(zhi)(zhi)流電(dian)(dian)流電(dian)(dian)壓(ya)時，就是直(zhi)(zhi)流干擾。如果情況(kuang)嚴重，測量(liang)儀(yi)器將無(wu)法正常(chang)工(gong)作。直(zhi)(zhi)流干擾源如下(xia)：

(1) 附(fu)加熱(re)電勢(shi)。

(2) 化學電勢(shi)。

(3) 當雷達物位計接觸直流(liu)電(dian)源時，泄漏電(dian)流(liu)將通(tong)過測量電(dian)路產生干擾(rao)電(dian)壓(ya)。

四(si)、交(jiao)流(liu)干擾

交(jiao)(jiao)(jiao)流(liu)干(gan)(gan)(gan)(gan)擾(rao)(rao)可(ke)分為線(xian)(xian)對(dui)線(xian)(xian)干(gan)(gan)(gan)(gan)擾(rao)(rao)和地(di)(di)面(mian)干(gan)(gan)(gan)(gan)擾(rao)(rao)，線(xian)(xian)間干(gan)(gan)(gan)(gan)擾(rao)(rao)是(shi)指在外界(jie)影響下，雷(lei)達物位計(ji)(ji)(補(bu)償(chang)線(xian)(xian))輸出(chu)端(duan)之(zhi)間的(de)交(jiao)(jiao)(jiao)流(liu)電(dian)壓。這種干(gan)(gan)(gan)(gan)擾(rao)(rao)也稱為橫(heng)向、共模或共態干(gan)(gan)(gan)(gan)擾(rao)(rao)。一(yi)般來說，線(xian)(xian)對(dui)線(xian)(xian)干(gan)(gan)(gan)(gan)擾(rao)(rao)電(dian)壓可(ke)以達到(dao)幾(ji)毫伏甚(shen)至幾(ji)十毫伏。接地(di)(di)干(gan)(gan)(gan)(gan)擾(rao)(rao)是(shi)指雷(lei)達物位計(ji)(ji)(或補(bu)償(chang)線(xian)(xian))的(de)兩(liang)個輸出(chu)端(duan)之(zhi)一(yi)，其對(dui)地(di)(di)交(jiao)(jiao)(jiao)流(liu)電(dian)壓稱為接地(di)(di)干(gan)(gan)(gan)(gan)擾(rao)(rao)電(dian)壓。這種干(gan)(gan)(gan)(gan)擾(rao)(rao)也稱為縱向、串聯模式或串聯狀態干(gan)(gan)(gan)(gan)擾(rao)(rao)。一(yi)般來說，對(dui)地(di)(di)干(gan)(gan)(gan)(gan)擾(rao)(rao)電(dian)壓可(ke)以達到(dao)幾(ji)伏甚(shen)至超過100伏。交(jiao)(jiao)(jiao)流(liu)干(gan)(gan)(gan)(gan)擾(rao)(rao)的(de)主(zhu)要來源如下：

(1) 電磁感應是線對線干擾的主要來源。

(2) 高溫泄漏。

(3) 高壓電場干擾。

(4) 接地電流干(gan)擾。

(5) 吸入和泄(xie)漏的影響(xiang)。

(6) 測量帶電體上的溫(wen)度也會引入交(jiao)流干擾。

以上就是(shi)我們所討論的(de)雷(lei)達(da)液(ye)位計(ji)的(de)干(gan)擾，當我們安(an)裝或使用雷(lei)達(da)液(ye)位計(ji)時，我們還可(ke)以根據上述情況確定您的(de)使用環境(jing)是(shi)否會對液(ye)位計(ji)造成這(zhe)些干(gan)擾。如(ru)果存在這(zhe)些情況，必須采(cai)取(qu)抗干(gan)擾措施，以確保(bao)液(ye)位計(ji)能(neng)更好地為您服務。