雷(lei)達(da)物位計(ji)的工作(zuo)原(yuan)理是：

產品天線(xian)發射較窄的微(wei)波(bo)脈沖，在經過天線(xian)向下傳(chuan)(chuan)輸，微(wei)波(bo)接觸到被測介質表面后被反射回來；再(zai)次被天線(xian)系(xi)統接收，將(jiang)其傳(chuan)(chuan)輸給電子線(xian)路(lu)部分自(zi)動轉換成物(wu)位信號。

在這(zhe)個過程(cheng)中(zhong)，因(yin)(yin)(yin)為微(wei)波(bo)傳播(bo)速度極快，電磁波(bo)到達目標并(bing)經反射返回(hui)接收器這(zhe)一來回(hui)所用(yong)的時間(jian)幾乎是瞬(shun)間(jian)的。在雷達物位計進行測量的過程(cheng)中(zhong)會(hui)因(yin)(yin)(yin)為各類因(yin)(yin)(yin)素，包(bao)括內(nei)部(bu)儀器產品自身(shen)緣由(you)及外部(bu)環境、介(jie)質等原因(yin)(yin)(yin)，造(zao)成最終的測量不準(zhun)及誤(wu)差。下面剖析其產生的緣由(you)。 

 1 

內部緣由-雷達物位(wei)計自身(shen)產生的誤(wu)差

因(yin)為雷達物(wu)位(wei)(wei)計(ji)的使(shi)用者不(bu)可能都(dou)是(shi)(shi)專業技術人員，在安裝及使(shi)用時都(dou)會使(shi)產品(pin)自身就不(bu)精準，從而出現誤差。而且雷達物(wu)位(wei)(wei)計(ji)是(shi)(shi)采用導波雷達技術，不(bu)會受到溫(wen)度、壓力、濕度等環境條件的影(ying)響，所以大部分的原因(yin)是(shi)(shi)人為造成(cheng)。

 2 

外部緣由—使用過程中儀器出現的問題

1、被測液體造成誤(wu)差

因(yin)為雷達物位(wei)計在測(ce)量界位(wei)時(shi)(shi)，要求上(shang)面(mian)的(de)液(ye)體的(de)介電常(chang)數(shu)必須比下面(mian)的(de)大(da)10，當相差不(bu)大(da)時(shi)(shi)就會(hui)(hui)變成(cheng)波(bo)型。而當出現(xian)上(shang)層的(de)液(ye)位(wei)厚(hou)度很低的(de)情況，因(yin)為液(ye)位(wei)和界面(mian)所用時(shi)(shi)間(jian)基本相同，產生(sheng)返回的(de)兩個信號(hao)可能(neng)會(hui)(hui)疊在一起，影(ying)響最終測(ce)量結果。

2、出(chu)現測量盲區
雷(lei)達(da)物位計在測(ce)量(liang)中(zhong)輸出電(dian)流是4~2mA，但是由于被測(ce)液(ye)體本身(shen)和探頭的原因，測(ce)量(liang)中(zhong)有兩個盲(mang)(mang)區，分別(bie)為頂(ding)部(bu)(bu)(bu)盲(mang)(mang)區和底(di)部(bu)(bu)(bu)盲(mang)(mang)區。頂(ding)部(bu)(bu)(bu)盲(mang)(mang)區頁面到上參考點之間(jian)能測(ce)到的最小距離(li)大約(yue)是0.4~0.5米；底(di)部(bu)(bu)(bu)盲(mang)(mang)區是在探頭的底(di)部(bu)(bu)(bu)，隨著儲(chu)罐內正式液(ye)位變化，測(ce)量(liang)結果沒(mei)有變化的一部(bu)(bu)(bu)分。 

3、被(bei)測液體粘(zhan)度過大

粘性很高的液體會附著在探(tan)頭上，影響信號的傳(chuan)遞，使雷達物位計的測(ce)量產生(sheng)誤(wu)差。這(zhe)種情(qing)況更(geng)加嚴重時，粘度更(geng)大將雙纜(lan)的探(tan)頭連在一(yi)起，影響也就隨之更(geng)大。

上述就是對(dui)雷(lei)達物位計測(ce)量出現失誤情況(kuang)的分析(xi)，由各類因素造成，建議用(yong)戶在使用(yong)時(shi)要(yao)注意細節，還要(yao)對(dui)其進行維護，例(li)如定期清洗探頭(tou)，避(bi)免測(ce)量不準。

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