在電子技術誕生之前,主要的液位檢測方法是以機械力學為基礎的。微電子技術的發展大大促進了傳感技術的發展,因而產生了許多新的液位檢測方法及儀表。在這些儀表中,雷達液位計是基于時間行程法產生的。所以,我們有必要認識一下雷達液位計原理中的(de)幾個小知識點(dian)。
雷(lei)達液(ye)(ye)位計(ji)(ji)通過發射和接(jie)(jie)收(shou)微波脈沖(chong),進行液(ye)(ye)位測(ce)量。從這一(yi)點來(lai)看,雷(lei)達液(ye)(ye)位計(ji)(ji)有(you)兩(liang)個主(zhu)要設備(bei)(元件),即發射機和接(jie)(jie)收(shou)機。發射機發射微波脈沖(chong),經(jing)天線向下傳輸,微波接(jie)(jie)觸(chu)到液(ye)(ye)體(ti)界(jie)面,發生反射,反射后的微波經(jing)天線傳輸,最終被(bei)接(jie)(jie)收(shou)器(qi)捕獲(huo)。實際上除了這兩(liang)個主(zhu)要設備(bei),雷(lei)達液(ye)(ye)位計(ji)(ji)的設備(bei)還有(you)發射天線、接(jie)(jie)收(shou)天線、處理(li)部(bu)分、顯示(shi)器(qi),等(deng)等(deng)。
說(shuo)完了雷達液(ye)位計(ji)的設備,不妨再認識一下影(ying)響雷達液(ye)位計(ji)測量效果的幾個要(yao)素。
想要認識這些(xie)要素,就要先知道(dao)與雷達(da)液(ye)位計(ji)有關(guan)的(de)幾個公(gong)(gong)式(shi)。雷達(da)液(ye)位計(ji)液(ye)位測量(liang)公(gong)(gong)式(shi):L(液(ye)位)=E-C(光(guang)速(su)(su)(su))×T/2。在(zai)(zai)這個公(gong)(gong)式(shi)中,有一個很重要的(de)因(yin)素,即光(guang)速(su)(su)(su)。光(guang)速(su)(su)(su)不受大(da)氣環境因(yin)素影響,因(yin)此(ci)電(dian)磁波(bo)(bo)在(zai)(zai)空氣中的(de)傳播速(su)(su)(su)度(du)不受電(dian)磁波(bo)(bo)頻率(lv)、溫度(du)以及(ji)大(da)氣壓力影響。光(guang)速(su)(su)(su)公(gong)(gong)式(shi):光(guang)速(su)(su)(su)=頻率(lv)×波(bo)(bo)長(chang),微波(bo)(bo)的(de)頻率(lv)不同(tong)(tong),波(bo)(bo)長(chang)也不同(tong)(tong)。天(tian)線增益(yi)公(gong)(gong)式(shi)即天(tian)線在(zai)(zai)特定方向(xiang)上(shang)(shang)輻(fu)射的(de)立體角度(du)的(de)能(neng)量(liang)與天(tian)線在(zai)(zai)所有方向(xiang)上(shang)(shang)輻(fu)射的(de)立體角度(du)的(de)能(neng)量(liang)的(de)比率(lv)。
從這些公(gong)式(shi)中,可以(yi)看出(chu),雷(lei)(lei)達(da)(da)液位計測量效果如何與天(tian)線(xian)的(de)增益有(you)直(zhi)接關系,而天(tian)線(xian)的(de)增益又與頻(pin)率(lv)(lv)有(you)密切(qie)的(de)聯系。在其它條件(jian)一定的(de)前提下,高頻(pin)率(lv)(lv)雷(lei)(lei)達(da)(da)液位計與低頻(pin)率(lv)(lv)雷(lei)(lei)達(da)(da)液位計相比,頻(pin)率(lv)(lv)越高,天(tian)線(xian)增益越大,能量越集中。
雷達液位計(ji)只是一(yi)(yi)個小小的測量儀表,但是它(ta)的作用卻不容小覷,所以我(wo)們(men)有意必要多了解一(yi)(yi)下它(ta)的相(xiang)關知(zhi)識。
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